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3360-P VLSI測試系統(tǒng)

更新時間:2024-11-10

簡要描述:

3360-P VLSI測試系統(tǒng)
主要特色:
?25/50 MHz 測試頻率
?25/50 Mbps data rate
?256 logic I/O pins
?8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD

  免費(fèi)咨詢:0755-23217122

  發(fā)郵件給我們:xz01@junhuiyiqi.vip

3360-P VLSI測試系統(tǒng)

主要特色:

  • 25/50 MHz 測試頻率
  • 25/50 Mbps data rate
  • 256 logic I/O pins
  • 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
  • 平行測試可達(dá) 32 devices
  • Real parallel Trim/Match 功能
  • 時序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
  • 測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10,J750, ITS9K, TS670 )
  • AD/DA卡 選配 (16 ~24 bits)
  • SCAN 測試 選配 (max 512M/chain)
  • ALPG 測試 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
  • CRAFT C/C++ 程式語言

 

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